簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共5筆資料 檢索策略: "光學檢測".ckeyword (精準) and cdept.raw="工業管理系"


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    1

    深度學習模型於刮傷檢測之應用
    • 工業管理系 /109/ 碩士
    • 研究生: 陳畯宏 指導教授: 王孔政
    • 瑕疵數據收集對於新產品而言極其稀少,一直是重要的議題。然而,瑕疵數據集的品質對深度學習有顯著的影響。本研究致力於應用CNN架構之瑕疵檢測模型,以解決瑕疵資料稀缺性的問題。本研究考量產品生產過程中瑕疵…
    • 點閱:286下載:0
    • 全文公開日期 2024/06/30 (校內網路)
    • 全文公開日期 2024/06/30 (校外網路)
    • 全文公開日期 2024/06/30 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    2

    AOI瑕疵影像深度學習卷積神經網路分類模型之研究
    • 工業管理系 /107/ 碩士
    • 研究生: 范姜皓 指導教授: 王孔政
    • 電子產品微小化及對於良率要求極為嚴苛,因此在自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)容易因敏感度提高而出現過篩現象,常造成AOI瑕疵誤判及人力複檢成本提高。…
    • 點閱:665下載:0
    • 全文公開日期 2024/07/03 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    3

    高速生產線瑕疵檢測之兩階段卷積神經網絡模型
    • 工業管理系 /108/ 碩士
    • 研究生: 黃怡晶 指導教授: 王孔政
    • 高速生產的微型電子元件需要快速且準確的檢測方法,自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)常應用於此。然而,AOI易於產生檢測篩選不足且/或篩選過度的問題。本…
    • 點閱:332下載:0
    • 全文公開日期 2025/06/28 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    4

    F-AnoGAN 修改損失函數與梯度平滑值於電子零件之異常偵測效果改善
    • 工業管理系 /111/ 碩士
    • 研究生: 周晉毅 指導教授: 歐陽超
    • 異常檢測對於確保電子元件的質量和可靠性有著重要的作用。 在本文中,我們提出一種新的指標梯度平滑值並加入於 F-AnoGAN的損失函數中進行改進。 目標是提高電子元件異常檢測的有效性。 這種方法有助於…
    • 點閱:434下載:1

    5

    結合無線射頻與自動化光學檢測技術之SMT電路板組裝製程之品質監控程序
    • 工業管理系 /97/ 碩士
    • 研究生: 戴孟浩 指導教授: 羅士哲
    • 本研究結合無線射頻辨識技術與自動化光學檢測技術,對使用表面黏著技術之印刷電路板組裝線建構一套品質監控程序。藉由此方式,我們可以減少現行組裝生產線中人為疏忽與即時資訊傳達效果不彰的情況,進而提升電路板…
    • 點閱:499下載:13
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